武漢周邊儀器/儀表信息
共找到 60 條信息-
硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備
硅基and碳化硅特性曲線測試設(shè)備優(yōu)勢 高電壓、大電流 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達3500V(最大可擴展至10kV) 具有大電流測量/輸出能力,電流高達6000A(多模塊并聯(lián)) 高精度測量 nA級漏電流, μΩ級導(dǎo)通電阻 0.1%精度測量 模塊化配置面議2026-02-25 -
精密電流源直流源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%面議2026-02-25 -
igbt模塊測試設(shè)備功率器件測試儀
普賽斯igbt模塊測試設(shè)備功率器件測試儀，集多種測量和分析功能一體，可以精準(zhǔn)測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等）的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性、μΩ級J確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容，如面議2026-02-25 -
半導(dǎo)體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表
半導(dǎo)體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表找普賽斯儀表，普賽斯數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā)，對標(biāo)美國2400，B2901；可實現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率；支持四象限工作，測量范圍廣，電壓高至300V，電流低至10pA；支持USB存儲，一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報告；5寸觸摸顯示屏面議2026-02-25 -
SMU數(shù)字源表搭建微電子教學(xué)實驗平臺
在半導(dǎo)體材料和器件的研究中，電性能測試是必不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的提升，微電子工藝逐漸復(fù)雜，如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關(guān)注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU，為進一步打通測試融合壁壘，打造閉環(huán)解決方案，通過對半導(dǎo)體高面議2026-02-25 -
半導(dǎo)體性能檢測設(shè)備iv曲線測試儀
實施特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、率先國產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品，集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體?？勺鳛楠毩⒌暮銐涸椿蚝懔髟?、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載。其高性能架構(gòu)還允許將其面議2026-02-25 -
電化學(xué)實驗循環(huán)伏安測試儀
電化學(xué)電池的三個電極是工作電極 (WE)、基準(zhǔn)電極 (RE) 和反（或輔助）電極 (CE)。WE 和 CE 之間使用雙極性可編程電源進行電壓掃描。RE與 WE 之間的電位E使用數(shù)字電壓表測量，然后調(diào)節(jié)雙極性可編程電源輸出電壓VS，使E為希望的電位值，這時使用萬用表測量流入WE的電流I。之后面議2026-02-25 -
功率半導(dǎo)體參數(shù)測試儀3500V/1000A
普賽斯PMST功率半導(dǎo)體參數(shù)測試儀3500V/1000A，主要包括測試主機、測試線、測試夾具、電腦、上位機軟件，以及相關(guān)通訊、測試配件等構(gòu)成。整套系統(tǒng)采用普賽斯自主開發(fā)的測試主機，內(nèi)置多種規(guī)格電壓、電流、電容測量單元模塊。結(jié)合專用上位機測試軟件，可根據(jù)測試項目需要，設(shè)面議2026-02-25 -
半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
SPA-6100半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿面議2026-02-25 -
半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試儀+功率器件測試設(shè)備
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備，產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段，實現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2026-02-25 -
二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表
普賽斯二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表 二極管是一種使用半導(dǎo)體材料制作而成的單向?qū)?電性元器件，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)一般為單個PN結(jié)結(jié)構(gòu)，只允許電流從單一方向流過。發(fā)展至今，已陸續(xù)發(fā)展出整流二 極管、肖特基二極管、快恢復(fù)二極管、PIN二極管、光電 二極管等，具有安全可靠等面議2026-02-25 -
PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)
普賽斯PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導(dǎo)體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴(yán)重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定、面議2026-02-25 -
30A+1us脈沖源
30A+1us脈沖源的簡述: 作用: 主要應(yīng)用于VCSEL激光器、大功率LED的測試 功能： 實現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測試 特點： （1）超窄脈沖大電流電流加電，能夠滿足VCSEL的晶圓和芯片的測試需要； （2）支持脈沖光功率和器件脈沖電壓采樣功能。是LIV測試的系統(tǒng)解決方案； （3面議2026-02-25 -
半導(dǎo)體激光器參數(shù)測試設(shè)備激光器老化測試系統(tǒng)
普賽斯半導(dǎo)體激光器參數(shù)測試設(shè)備激光器老化測試系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導(dǎo)體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴(yán)重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定面議2026-02-25 -
漏電流 開短路測試 電氣特性測試數(shù)字源表
數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負載，支持四象限功能，可提供恒流測壓及恒壓測流功能,可簡化芯片電性能測試方案。 在生產(chǎn)和老化測試時，往往要求在同一時間內(nèi)完成對多個DUT的測試，或者在單個DUT上異步或者同步地運行多個測試任務(wù)?；谄召愃笴面議2026-02-25 -
8000V半導(dǎo)體測試高壓程控電源
高電壓源測單元具有輸出及測量電壓高(8000V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)的特點。設(shè)備工作在第一象限，輸出及測量電壓0~8000V，輸出及測量電流0~40mA。支持恒壓恒流工作模式，同時支持豐富的I-V掃描模式。設(shè)備可應(yīng)用于IGBT擊穿電壓測試、IGBT老化電源、防雷二極管耐壓測面議2026-02-25 -
P系列脈沖源表IV測試激光器芯片
PXOOB系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達30A，Z大輸出電壓達300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者面議2026-02-25 -
高精度DC電流源精密直流源表帶脈沖
P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達30A，Z大輸出電壓達300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者，特面議2026-02-25 -
半導(dǎo)體特性曲線儀iv+cv測試機
半導(dǎo)體特性曲線儀iv+cv測試機優(yōu)勢： IV、CV一鍵測；一體機，支持遠程指令控制；支持三同軸接探針臺 能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測試；詳詢18140663476 典型應(yīng)用： 納米、柔性等材料特性分析； 二極管； MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；面議2026-02-25 -
數(shù)字源表搭建MOS電容CV特性測試實驗平臺
系統(tǒng)方案 普賽斯半導(dǎo)體功率器件C-V測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)負責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置，通過矩陣開關(guān)加載在待測件上。 進行 C-V 測量時，通常在電容兩端施加直流偏壓，同時利用一個交流信面議2026-01-29 -
大電流電源3000A電流源
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備，產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段，實現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2026-01-15 -
功率器件CV測試系統(tǒng)+CV測試儀
系統(tǒng)方案 普賽斯功率器件CV測試系統(tǒng)+CV測試儀主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)負責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置，通過矩陣開關(guān)加載在待測件上。 進行 C-V 測量時，通常在電容兩端施加直流偏壓，同時利用一面議2026-01-15 -
CV測試系統(tǒng)_CV測試儀_提供0V~3500V偏壓范圍
CV測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)負責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置，通過矩陣開關(guān)加載在待測件上，內(nèi)置自動化CV測試軟件，包含C-V（電容-電壓），C-T（電容-時間），C-F（電容-頻率）等多項測試測試功能;詳面議2025-04-08 -
電流脈沖電源1μs窄脈寬
PL系列窄脈沖LV測試系統(tǒng)是為大功率激光器LV測試而研制的，大功率激光器使用直流或者寬脈沖加電時發(fā)熱嚴(yán)重，而激光器特性受溫度影響非常大，直流或?qū)捗}沖下的測試結(jié)果并不能反映器件特性。 PL系列產(chǎn)品具有輸出電流脈沖窄、輸出脈沖電流大、支持脈沖光峰值功率檢測、支持激面議2025-04-08
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